8 月 7 日，CEIA 论坛在惠州富力万丽酒店顺利举办，IFREE 作为电子制造测试领域的创新代表出席了会议，本次会议汇聚了来自消费电子、汽车电子、军工制造等领域的数百位企业代表、技术专家及行业学者。

在电子制造行业飞速发展的当下，测试效率瓶颈与高成本难题如两座大山，让众多企业步履维艰。传统测试手段在柔性生产需求面前愈发乏力，全流程质量管控的缺失更是让潜在风险在生产环节中不断传导。作为研讨会的核心环节之一，IFREE 公司销售张经理携 “IFREE 飞针测试：重构电子制造的‘测试 +’生态革命” 主题演讲精彩亮相，引发全场热烈关注。

张经理在演讲中指出，IFREE 飞针测试技术以颠覆性创新打破了行业困境。其核心在于构建了强大的 “测试 +” 生态，将 AI 智能诊断、动态路径优化与云平台协同深度融合。这一融合实现了测试环节从 “被动检测” 到 “主动赋能” 的质变，让测试不再仅仅是生产过程中的一个检查环节，更成为了提升生产效率、保障产品质量的关键驱动力。

本次分享深入解构了 IFREE 在消费电子、汽车电子、军工制造等多个领域的落地实践。在消费电子领域，IFREE 飞针测试技术凭借高效精准的测试能力，助力企业快速响应市场需求，缩短产品上市周期；在汽车电子领域，严苛的质量要求下，IFREE 的质量管控能力有效降低了潜在风险，为汽车电子的安全可靠保驾护航；而在军工制造领域，IFREE 飞针测试技术更是以其稳定可靠的性能，满足了高标准、严要求的测试需求。

通过这些实践案例，IFREE 向行业展示了如何以测试为支点，撬动电子制造全价值链的升级。这不仅为电子制造企业提供了切实可行的解决方案，更引领着行业向更高效、更优质、更智能的方向发展。

未来，IFREE 将继续深耕飞针测试技术，不断完善 “测试 +” 生态，为电子制造行业的转型升级贡献更多力量。让我们共同期待 IFREE 带来更多惊喜与突破！