在电子制造快速发展的当下，测试精度直接影响着电子产品的性能和质量。您还在为高频信号测试损耗大、微小元件测试不准发愁？艾富瑞（IFREE）飞针近端测试系统，为高精度 PCBA 及半导体测试提供新方案！

一、什么是飞针近端测试？

飞针近端测试，就是通过优化探针路径与信号传输结构，实现激励源与被测器件（DUT）的极近距离接触，显著提升高频信号与高速数字电路的测试精度。它有两大核心特点：

• 信号源近接触：缩短信号源与被测设备的距离，减少信号传输过程中的延迟、衰减和反射问题，让信号传输更稳定。

• 测试点精准定位：探针直接接触被测设备关键节点，避免长引线产生的寄生参数干扰，保证测试结果更准确。

相比传统远端测试，近端测试能提高测试精度、降低外界电磁干扰，更精准地捕捉信号参数，还简化了校准流程，实用性很强。

二、艾富瑞飞针近端测试系统四大核心优势

1. 高频测试表现优异

支持 GHz 级信号测试，能有效减少信号传输损耗和反射。无论是 5G 通讯的高速信号、射频（RF）电路，还是高速互联（HDI）板的测试，都能精准检测信号细节，满足高端电子产品测试需求。

2. 精准测试微小信号

凭借独创的探针定位算法和低噪声设计，即使是微弱信号、高阻抗节点也能稳定测试，不放过任何微小缺陷，确保测试结果精准可靠。

3. 灵活高效，降低成本

无需定制夹具，能快速适配多品种、小批量生产以及各种复杂测试需求，大幅降低测试成本，缩短测试周期，提高生产效率，增加企业收益。

4. 国产化自主研发，安全可靠

硬件和软件平台全自主研发，满足高端制造对测试设备安全性和可靠性的严格要求，摆脱国外技术依赖，为我国电子制造行业提供有力技术支撑。

艾富瑞（IFREE）作为国内领先的电子测试技术提供商，凭借实打实的技术，攻克了电子测试中一个又一个难题，艾富瑞飞针近端测试系统已成功应用于消费电子、汽车电子及航空航天等领域。从高频信号的精准捕捉，到微小元件的可靠测试；从成本的有效控制，到自主可控的技术保障，都展现出非凡实力。艾富瑞期待与您携手，共同开启电子测试的高效精准新时代！